一种应用于单点激光检测的线条痕迹对比系统

发布于 2023-02-22 09:28

公开（公告）号: 

CN112381109A

申请号: 

CN202010346738.9

申请日: 

2020-04-27

发明人: 

潘楠

沈鑫

赵成俊

黎兰豪崎

钱俊兵

夏丰领

公开日期: 

2021-02-19

所属会员单位: 

昆明理工大学

专利类型: 

发明公布

法律状态: 

实质审查