一种基于多策略模式的线条痕迹批量比对系统

公开(公告)号: 
CN111639664A
申请号: 
CN202010266567.9
申请日: 
2020-04-07
发明人: 
潘楠
赵成俊
沈鑫
钱俊兵
魏举伦
夏丰领
公开日期: 
2020-09-08
所属会员单位: 
昆明理工大学
专利类型: 
发明公布