用于ELEMENTGD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法

公开(公告)号: 
CN114112602A
申请号: 
CN202111562719.0
申请日: 
2021-12-20
发明人: 
杨斌
赵晋阳
徐宝强
陈秀敏
杨红卫
吴鉴
蒋文龙
孔令鑫
刘红武
段梦平
公开日期: 
2022-03-01
所属会员单位: 
昆明理工大学
专利类型: 
发明公布